Vorteile und Nachteile von XRD und XRF

Vorteile und Nachteile von XRD und XRF

XRF und XRD sind zwei gebräuchliche Röntgentechniken. Jede hat ihre spezifischen Methoden zum Scannen und Messen mit Vor- und Nachteilen. Obwohl diese Techniken zahlreiche Anwendungen haben, werden XRF und XRD hauptsächlich in der wissenschaftlichen Industrie zur Messung von Verbindungen verwendet. Die Art der Verbindung und ihre molekulare Struktur geben an, welche Technik effektiver ist.

Kristalle

Pulverröntgenbeugung - oder XRD - wird verwendet, um kristalline Verbindungen zu messen, und liefert eine quantitative und qualitative Analyse von Verbindungen, die nicht mit anderen Mitteln gemessen werden können. Durch Aufnahme eines Röntgenstrahls an einer Verbindung kann XRD die Beugung des Strahls von verschiedenen Abschnitten der Verbindung messen. Diese Messung kann dann verwendet werden, um die Zusammensetzung der Verbindung auf atomarer Ebene zu verstehen, da alle Verbindungen den Strahl unterschiedlich beugen. XRD-Messungen zeigen Strukturaufbau, -gehalt und -größe von kristallinen Strukturen.

Metalle

Röntgenfluoreszenz - oder XRF - ist eine Technik, die verwendet wird, um den Prozentsatz von Metallen in anorganischen Matrices wie Zement und Metalllegierungen zu messen. XRF ist ein besonders nützliches Forschungs- und Entwicklungswerkzeug in der Bauindustrie. Diese Technik ist äußerst nützlich, um die Zusammensetzung dieser Materialien zu bestimmen, wodurch Zement und Legierungen von höherer Qualität entwickelt werden können.

Geschwindigkeit

XRF kann ziemlich schnell durchgeführt werden. Eine RFA-Messung, die das Metall in der gegebenen Probe misst, kann in weniger als einer Stunde aufgebaut werden. Die Ergebnisanalyse behält auch den Vorteil, dass sie schnell ist und typischerweise nur 10 bis 30 Minuten zur Entwicklung benötigt, was zur Nützlichkeit von XRF in Forschung und Entwicklung beiträgt.

XRF-Grenzen

Da XRF-Messungen von der Menge abhängen, gibt es Grenzen für die Messungen. Die normale quantitative Grenze liegt bei 10 bis 20 ppm (parts per million), normalerweise die für ein genaues Ablesen erforderlichen minimalen Partikel.

XRF kann auch nicht zur Bestimmung des Berylliumgehalts verwendet werden, was ein deutlicher Nachteil bei der Messung von Legierungen oder anderen Materialien ist, die Beryllium enthalten können.

XRD-Grenzen

XRD hat auch Größenbeschränkungen. Es ist viel genauer für das Messen von großen kristallinen Strukturen als von kleinen. Kleine Strukturen, die nur in Spuren vorhanden sind, werden oft durch XRD-Messungen nicht erkannt, was zu verzerrten Ergebnissen führen kann.

Vorteile und Nachteile von XRD und XRF

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